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SCINCO研发中心成立于1995年8月,目前我们已经开发并发布了包括最早的PDA紫外可见分光光度计在内的多款产品。尤其是随着我们自主创新的产品紫外可见分光光度计,荧光分光光度计,拉曼光谱仪的问世,SCINCO公司的技术在国内外得到广泛的认可。2009年SCINCO公司的荧光分光光度计获得韩国最高奖项Jang Young Shil 奖,这也使研发中心的地位得到进一步巩固。
SCINCO研发中心已经有光学模拟,3-D模型,机理设计,电子电路和应用软件等方面的多项技术创新。
凭借熟练的分析技术和丰富的经验,我们可以为客户测试高难度的样品。
通过与国家附属研究中心、大学和企业研究中心的长期合作,我们可以了解技术发展的最新趋势。
为成为未来分析技术方面的先锋而努力。
2018.07 新款手机面板检测仪 VMS-8S 0.5 出世
2018.03 更新ISO 9001:2015认证
2017.07 更新技术革新型中小企业(Inno-Biz)认证
2017.05 获得具备支持测定光特性对象的光特性测定装置专利
2017.02 获得光谱类装置及比色皿支架专利
2016.12 获得便携式监测排尿装置专利
2016.12 光学滤波器透过率自动检测仪(mega-ATS)出世
2015.11 研究和发布手机面板检测仪,VMS-8S
2015.10 获得荧光微量体积样品夹持器专利
2015.06 获得S-3100, DR-1000漫反射板的CE / NRTL认证证书
2015.05 获得Mega Array, Mega-2100 and S-3100的CE / NRTL认证证书
2015.04 获得透过率测量系统IR-Micro的专利
2015.04 获得HPLC流通池专利
2014.04 获得微量体积样品夹专利
2014.03 研究和发布双光束紫外可见分光光度计, Mega-2100
2014.02 研究和发布PDA紫外可见分光光度计, Mega Array
2014.02 研究和发布生物PDA紫外可见分光光度计, Nano-MD
2014.01 获得可见显微分光光度计, VMS-1S的CE认证证书
2013.12 研究和发布等温放大器, i-Gene
2013.11 获得辊缝检测仪(在链辊缝测量仪)专利
2013.09 可同时测定荧光和吸光度的紫外-可见分光光度计获得专利
2013.08 恒温控制器, PT-100获得CE认证证书
2013.04 科学家和信息技术专家首相奖
2013.01 装备具有测试X射线荧光光谱仪样品夹持器的样品室获得专利
2012.12 研究和发布微量比色皿, Nano Stick
2012.10 获得分光光度计, ColorMate的CE认证证书
2012.08 获得可见显微分光光度计专利
2012.06 获得便携式X射线荧光光谱仪专利
2012.06 研究和发布辊缝检测仪(在链辊缝测量仪)
2012.02 研究和发布色差仪(第三代分光光度计)
2010.07 获得装备积分球的紫外-可见分光光度计专利
2010.05 获得PDA的紫外可见分光光度计, S-3100和荧光光谱仪, FS-2的UL认证证书
2010.02 研究和发布手机面板检测仪, VMS-1
2009.11 荧光光谱仪,FS-2获得知识经济部奖(新技术实现竞争)
2009.04 荧光光谱仪,FS-2获得张成泽青年”奖(韩国奖励技术创新卓越的最高荣誉)
2008.12 研究和发布双光束紫外可见分光光度计, NEOSYS-2000
2008.09 荧光光谱仪, FS-2获得CE认证证书
2008.09 分光光度计,色差仪获得CE认证证书
2007.04 装备此装置的信号检测装置及紫外-可见分光光度计获得专利
2007.02 在线监测的多通道传感器紫外可见分光光度计获得专利
2007.02 研究和发布荧光光谱仪, FS-2
2007.01 获得PDA紫外可见分光光度计的配件,自动参照阶段的发明专利
2006.12 研究和发布共焦拉曼显微镜光谱仪, RS-1
2006.10 研究和发布双光束紫外可见分光光度计, SD-1000
2006.08 获得荧光分光光度计的专利
2005.11 获得荧光分光光度计, FS-1的KT认证证书
2005.10 研究和发布荧光分光光度计, FS-1
2005.09 获得PDA的紫外-可见分光光度计, S-4100的CE认证证书
2005.05 研发中心搬到大田市
2004.10 PDA的紫外可见分光光度计, S-3100的GD(良好设计)采集
2004.08 韩国化学会奖(技术进步)
2003.12 科学技术部奖
2003.05 获得高分辨率多功能彩色分光光度计发明奖
2002.09 获得分光光度计, 色差仪CE认证证书
2001.11 ColorMate分光光度计,色差仪的KT标志采集
2001.10 研究和发布高压容器
2001.07 获得PDA的紫外-可见分光光度计, S-3100系列的CE认证证书
1999.12 研发分光光度计, 色差仪1100
1999.10 研究和发布 “高性能&通用” PDA紫外可见. S-1100系列
1999.07 研发以工业技术业务为基础的多用途分光光度计
1998.05 紫外-可见分光光度计, S-2100系列KT标志采集
1997.08 研究和发布PDA的紫外-可见分光光度计S-2100系列
1995.08 成立 Scinco 研发中心
1994.04 研发PDA的紫外-可见分光光度计S-2000系列
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